i.Profiler® plus

Minder vragen en meer antwoorden

i.Profiler® plus

Minder vragen en meer antwoorden

Autorefractie met de i.Profiler®plus

Minder vragen en meer antwoorden

 

Correcte brillenglazen kunnen alleen worden voorgeschreven als u over voldoende informatie van de klant beschikt. Laat i.Profiler plus u een gedetailleerd visueel profiel bieden zodat u meer antwoorden en minder vragen hebt voor uw patiënt.

 

  • Highlights

    De i.Profiler plus is het 4-in-1 compacte systeem met oculaire wavefront-aberrometer, autorefractometer, ATLAS corneatopograaf en keratometer. Door de volledig geautomatiseerde meetprocedure met gebruiksvriendelijk touchscreen kunnen alle metingen van beide ogen in ongeveer 60 seconden worden volbracht. De distributie van het refractieve vermogen van het oog wordt geanalyseerd en weergegeven over de volledige opening van de pupil. Dat onderscheidt de i.Profiler plus van conventionele autorefractors en opent de deur naar ZEISS brillenglazen met i.Scription technologie.

     

    Feiten in een oogopslag

    • Hartmann-Shack wavefront-sensor met hoge resolutie. Het wavefront is gesampeld op 1500 punten over een pupilopening van 7 millimeter
    • Instelbare kinsteun voor comfortabele hoofdpositie
    • Volledig geautomatiseerde meetprocedure
    • NIEUW: Bedien de ZEISS i.Profiler plus via ZEISS i.Com mobile en laat de i.Scription Analysis op de iPad aan de klant zien.
       
    • Toegang tot de i.Scription technologie van ZEISS voor beter nachtzicht
    • Duidelijk gestructureerde functies inschakelen voor het vastleggen, de evaluatie, presentatie en analyse van gegevens
    • Dankzij de touchscreen-bediening kunnen alle metingen van beide ogen in 60 seconden worden volbracht
    • De meetgegevens van de i.Profiler plus worden opgeslagen in het i.Com gegevensbeheersysteem en kunnen worden gebruikt voor toekomstig advies, bestellingen en archivering zonder dat verdere metingen nodig zijn. Interface met de meest gebruikte PMS-systemen voor een vlotte workflow-garantie. i.Com en i.Profiler® plus zijn als combinatie leverbaar in één pakketoplossing.
       
  • Technische gegevens
    Technische gegevens, Wavefront  
    Meetbereik
    sferisch: –20 D to +20 D
    As
    0° – 180°
    Meetoppervlak
    2.0 mm to 7.0 mm (3 zones)
    Aantal meetpunten
    up to 1500
    Methode Hartmann-Shack
    Referentiegolflengte
    1 555 nm (ISO 24157)
    Technische gegevens, Corneatopografie  
    Aantal meetringen
    22 (18 volledige meetringen)
    Aantal meetpunten
    3,425
    Gedetecteerd hoornvlies oppervlak op 42,125 D
    Dia. 0.75 mm tot 9.4 mm
    Dioptrie
    Measurement range 25 to 65 D
    Nauwkeurigheid
    ± 0.05 D (± 0.01 mm)
    Reproduceerbaarheid
    ± 0.10 D (± 0.02 mm)
    Type A
    Voldoet aan 19980
    Physical Data  
    General dimensions
    420 mm x 600 mm
    Weight
    30 kilograms
    Power connection
    100 V~ to 240 V~
    Supply frequency
    50 Hz to 60 Hz
    Power consumption
    ≤ 200 VA
  • Details
    • i.Profiler® plus biedt een hoge resolutie wavefront-meting en corneatopografie waarmee u alle gegevens krijgt die nodig zijn om de refractieve status van de ogen van uw klant te beoordelen.
    • Via de analysemodus kunt u de impact van verschillende afwijkingen op het gezichtsvermogen van uw patiënt visualiseren, waaronder Zernike-afwijkingen tot de 7de graad. Daarnaast kunnen de voordelen van de i.Scription® technologie worden gesimuleerd via de puntspreidingsfunctie.
       
  • i.Profiler plus en i.Scription-technologie

    i.Scription®-technologie in uw praktijk

    Eenvoudige en snelle integratie in uw workflow

    i.Scription®-technologie is eenvoudig aan te passen aan uw algemeen consultatieproces en de praktijk workflow. Deze technologie is mogelijk dankzij de i.Profiler® en kan gemakkelijk worden verwerkt in de refractieve analyse.

    Meer informatie over i.Scription van ZEISS

    1. Objectieve refractie

    2. Subjectieve refractie

    3. i.Scription-technologie

    Loading the player...

    Voer een objectieve refractie uit met behulp van de i.Profiler plus waardoor u een optische 'vingerafdruk' van uw patiënt krijgt en aberraties kunt detecteren in slechts 60 seconden.

    Loading the player...

    De waarden van de i.Profiler plus worden aangevuld met de resultaten van het zicht onderzoek met de i.Polatest van ZEISS om de interactie tussen de ogen van uw klant volledig te begrijpen. U kunt later de waarden opnieuw bekijken in de i.Scription beoordelingssoftware en deze bespreken met uw klant.

    Loading the player...

    De geoptimaliseerde voorschriftgegevens worden vervolgens doorgestuurd en opgeslagen naar i.Com voor directe bestelling via PMS of LOGON®.

      Unifocale standaardglazen Unifocale receptglazen2 Multifocale brillenglazen
    Bifocale brillenglazen
    Verkrijgbaar met i.Scription®-technologie
    3
    Angelo Bertozzi , Ottica iVision, Italië

    Angelo Bertozzi , Ottica iVision, Italië

  • Meer informatie

    Download brochure

    ZEISS Dispensing Tools & Instruments

    ZEISS analysetools & -instrumenten

    Productcatalogus 2014/2015

     

1 US Patent 7,744,217. Andere octrooien aangevraagd. Product ontworpen en gefabriceerd met de Carl Zeiss Vision technologie. i.Profiler® plus US Patent 7.744.217. Andere patenten zijn aangevraagd. Product ontworpen en gefabriceerd met de Carl Zeiss Vision technologie.
2 inclusief loop; verkrijgbaar met alle tinten, coatings, behandelingen, variaties
3 lokaal aangepast

Deze website maakt gebruik van cookies. Cookies zijn kleine tekstbestanden die door websites op uw computer opgeslagen worden. Cookies worden veelvuldig gebruikt en helpen webpagina's met een geoptimaliseerde weergave en het verbeteren daarvan. Door gebruik te maken van onze webpagina's gaat u daarmee akkoord. meer