- Producten
- Systemen
- Sensoren
- Software
- Accessoires
Correlatieve workflow om de oorzaak van de deeltjesbesmetting vast te stellen
Leveranciers, fabrikanten en eindgebruikers eisen steeds strengere kwaliteitsnormen. Daarom is een geavanceerd programma voor technische hygiëne fundamenteel om kritieke deeltjesbesmetting uit te roeien in het gehele productieproces. ZEISS-oplossingen voor technische hygiëne stellen de oorzaak van de besmetting vast, waardoor u sneller de juiste beslissing kunt nemen.
Bijzonder hygiënisch
Gegarandeerde kwaliteit
Deeltjesbesmetting is de vijand van de efficiëntie, functionaliteit en levensduur van elk product. Onderzoeken hebben aangetoond dat de belangrijkste bron van storingen in hydraulische en met olie gevulde machines is gebaseerd op deeltjesbesmetting. Olieanalyses helpen onderhoudskosten tot een minimum te beperken en de productieve werktijd van de machine te verbeteren. Om de maximale kwaliteit te verkrijgen, hebben fabrikanten duidelijke en uitgebreide gegevens over deeltjesanalyse nodig.
ZEISS-oplossingen voor technische hygiëne stellen de oorzaak van de besmetting vast, waardoor u sneller de juiste beslissing kunt nemen.
Nauwkeurig aangepast
aan de behoeften van productiesectoren
ZEISS-oplossingen voor technische hygiëne zijn ontwikkeld in samenwerking met autobedrijven. Deze hadden specifiek behoefte aan krachtige systemen voor de identificatie en classificatie van deeltjes, die eenvoudig in gebruik moesten zijn.
Als gevolg daarvan zijn ZEISS-oplossingen gemakkelijk toepasbaar, kunnen ze worden gebruikt op meerdere locaties binnen een productie- of industriële omgeving en kunnen ze worden gebruikt door exploitanten die geen microscopie-experts zijn.
ZEISS-oplossingen voor deeltjesanalyse voldoen aan de industrienormen:
Technische hygiëne |
Oliehygiëne |
Hygiëne van |
VDA 19.1 |
ISO 4406 |
VDI 2083 |
ISO 16232 |
ISO 4007 |
|
DIN 51455 |
||
SAE AS 4059 |
Ga verder dan de norm
Neem weloverwogen beslissingen over de oorzaak van besmetting
Het portfolio van ZEISS-oplossingen maakt gecombineerde deeltjesdetectie en -classificatie mogelijk in een zeer efficiënte workflow. Hierbij worden niet alleen deeltjes gevonden, maar worden deze ook geclassificeerd op basis van besmettings- of slijtage-oorzaak.
Met ZEISS kunt u gegevens van licht- en elektronenmicroscopen combineren in een enkele workflow om uitgebreidere informatie te verkrijgen.

Het potentiële risico op besmetting schatten
Lichtmicroscopiesystemen
Specificeer deeltjes op hoeveelheid, formaat, verspreiding en morfologie, en onderscheid metalen deeltjes van niet-metalen deeltjes en vezels tot 2 µm. Maak hygiënerapporten die in overeenstemming zijn met de gevestigde industrienormen.
Een geavanceerde analysewerkstroom tot stand brengen
Correlatieve deeltjesanalyse
Karakteriseer proceskritieke deeltjes en identificeer killerdeeltjes met behulp van Correlative Automated Particle Analysis (CAPA), die uw gegevens van licht- en elektronenmicroscopen combineert in een enkele werkstroom.
De besmettingsbronnen bepalen
Elektronenmicroscopie en EDX-systemen
Meet morfologische kenmerken van deeltjes en gebruik volautomatische elementaire analyses om deeltjes te classificeren op chemische samenstelling.
Contact opnemen met onze experts voor technische hygiëne
Vul het formulier in om contact met ons op te nemen. Aarzel niet om een gesprek over of een demo van ons product aan te vragen.