Verbonden microscopie. Versnel het besluitvormingsproces.

Productaanbod in industriële microscopie

170 jaar ervaring en ongeëvenaarde gegevensverwerkingsmogelijkheden voor alle apparaten: met zijn uitgebreide portfolio van toepassingsgerichte en verbonden industriële microscopieoplossingen helpt ZEISS u om gegevens om te zetten in bruikbare informatie en sneller de juiste beslissing te nemen.

Stereo and Zoom Microscopes

Confocal Microscopes

Electron Microscopes

X-Ray Microscopes

Voor de allereerste keer, realtime all-in-focus visualisatie

ZEISS Visioner 1

Traditionele inspectiesystemen bieden beperkte scherptediepte. Dit betekent dat bepaalde onderdelen van het monster mogelijk niet scherp zijn, wat kan leiden tot ontbrekende kenmerken, vermoeidheid van de gebruiker en een onvolledige inspectie.

ZEISS Visioner 1 brengt een revolutie teweeg in de wereld van optische inspectie en documentatie. Dit hulpmiddel maakt voor het eerst all-in-focus beeldvorming in realtime mogelijk, op basis van het unieke Micro-mirror Array Lens System (MALS^TM-technologie).

Ervaar de nieuwe microscoop

Van beeldanalyse tot productiviteit

Gegevensverwerking tussen verschillende dimensies

Met de ZEISS-serie voor industriële microscopie ondersteunt ZEISS zijn klanten op een consistente manier bij het verkrijgen, beheren en gebruiken van microscopiegegevens in omgevingen met meerdere gebruikers, tussen meerdere afdelingen en voor verschillende soorten microscopie.

Hierdoor kan op een gebruikersonafhankelijke manier worden gewerkt. Het wordt daarnaast mogelijk om trends te analyseren, meer inzicht te krijgen door resultaten tussen dimensies of modaliteiten te combineren en gegevens te delen. Het resultaat: meer productiviteit en zekerheid bij industriële microscopietoepassingen.

Go/no-go voor visuele inspectie
Identificeer defecten en storingen en bepaal de hoofdoorzaak
Karakteriseer ruwheid en topografie
Houd verontreiniging door deeltjes bij
Identificeer afwijkingen op een kritische geometrische dimensie

Intelligent beheer van gegevens

voor verbonden microscopie

Dankzij de uniforme gebruikersinterface van ZEN core kunnen gebruikers hun microscopen op dezelfde manier bedienen, van stereomicroscopen tot volledig geautomatiseerde high-end toepassingen. De krachtige softwaresuite maakt de correlatie van licht- en elektronenmicroscopie in multimodale workflows mogelijk en zorgt voor connectiviteit tussen systemen, afdelingen en locaties. ZEN core biedt meer dan alleen microscopische weergave. Het is de meest uitgebreide verzameling tools voor beeldvorming, segmentatie, analyse, en gegevensconnectiviteit voor multi-modale microscopie in met elkaar verbonden fysieke laboratoria.

Workflowgeoriënteerd

ZEN core maakt een workflowgeoriënteerde kwaliteitsborging voor microscopietoepassingen mogelijk door middel van speciale
softwaremodules voor toepassingsgebieden zoals technische reinheidsanalyse en werksjablonen voor geautomatiseerde beeldkwantificatie.

ZEISS ZEN core

Mobiele toegang

ZEN Data Explorer biedt toegang tot alle gegevens op de centrale ZEN-gegevensopslag vanaf iedere locatie via een mobiel apparaat of browser.

ZEISS ZEN core

Betrouwbare gegevensopslag

De centrale database voor een veilige gegevensverwerking en documentatie biedt een opschaalbare centrale opslagoplossing voor resultaten, methoden en sjablonen.

ZEISS ZEN core

Correlatie en connectiviteit

Door zijn correlatieve gegevensoutput maakt ZEN core een snelle en gemakkelijke relokalisatie van het interessegebied mogelijk voor verschillende weergavemethoden en microscooptechnologieën.

Meer informatie

Importeermogelijkheden voor derden

Gebruikers kunnen beelden van derden integreren en verwerken, zelfs vanaf microscopen van derden.

Toepassingen voor industriële microscopiesystemen

Workflowgeoriënteerde oplossingen voor efficiënte kwaliteitsanalyse

ZEISS levert het breedste scala aan oplossingen voor industriële toepassingen in diverse industriële segmenten: elektronica, auto-industrie, lucht- en ruimtevaart, medische apparatuur en printen in 3D. Werk met ons samen om uw specifieke technologische problemen op te lossen, uw processen te verbeteren en uw realisatietijd te minimaliseren met behulp van ons uitgebreide portfolio op het gebied van microscopie en gerichte softwareoplossingen. Realiseer beeldvorming van hoge kwaliteit met onze unieke microscopieoplossingen die gebruikmaken van weergavemodaliteiten op basis van licht, röntgenstralen en elektronen.

Defectenanalyse en metallografie

De hoofdoorzaak van een fout bepalen

De uitdaging

Metallografie onthult de inwendige structuur van materialen. Als iets niet gaat zoals gepland, is er foutenanalyse nodig om de fout te inspecteren, te analyseren en te documenteren om de onderliggende hoofdoorzaak aan het licht te brengen.

U doet uw voordeel met ZEISS

Snellere realisatietijd dankzij workflowgeoriënteerde software en correlatie van de resultaten met behulp van ZEN core.

Visuele inspectie

Snel en herhaalbaar

De uitdaging

Optische inspectie biedt fabrikanten de mogelijkheid om fouten te ontdekken en deze te stoppen zodra ze zich voordoen. Dit is afhankelijk van snelle en herhaalbare beelden en betrouwbare documentatie op de werkvloer en in kwaliteitsafdelingen.

U doet uw voordeel met ZEISS

ZEISS biedt de juiste microscopieoplossing voor elke inspectietoepassing: Lichtmicroscopen, scannen door middel van elektronenmicroscopen en röntgenmicroscopen.

Optische meting

Nauwkeurige metrologie op microscopische schaal

De uitdaging

Naarmate de productietechnologie voortschrijdt, kunnen gereedschappen werkstukken produceren met ambitieuze toleranties valt. Om de kwaliteit van deze producten en componenten te garanderen, moeten fabrikanten kunnen meten in afmetingen die kleiner zijn dan het menselijk oog kan zien.

U doet uw voordeel met ZEISS

De ongeëvenaarde ervaring in microscopie en de uitgebreide knowhow in metrologie van ZEISS leveren nauwkeurige resultaten binnen een breed scala aan microscooptypes.

Karakterisering van een oppervlak

3D-topografie en ruwheid

De uitdaging

Afgewerkte en functionele oppervlakken met een complexe geometrie moeten met de hoogste precisie worden gekarakteriseerd op ruwheid en 3D-topografie.

U doet uw voordeel met ZEISS

Afhankelijk van de toepassingseisen kan ZEISS tactiele opties bieden naast toonaangevende microscopieoplossingen zoals de ZEISS LSM 900 MAT en ZEISS Smartproof 5.

Meer informatie

Deeltjesanalyse

Betrouwbare kwaliteitsborging met betrekking tot technische reinheid

De uitdaging

De reinheid van componenten en onderdelen staat centraal in de meeste industriële productieprocessen. Een verontreiniging door deeltjes die niet wordt ontdekt, kan van invloed zijn op de prestaties, levensduur en betrouwbaarheid van de eindproducten.

U doet uw voordeel met ZEISS

Dankzij ZEISS kunt u weloverwogen beslissingen nemen over de oorzaak van verontreiniging.

Meer informatie

Van micrometer naar nanometer

ZEISS levert een ongekend uitgebreid portfolio met daarin alle microscooptypes die relevant zijn voor industriële toepassingen. Dit, gecombineerd met de correleerbare gegevens vanuit de verschillende microscooptechnologieën en de workflowgeoriënteerde ZEN core-software, biedt klanten een compleet en coherent systeem aan oplossingen dat alleen ZEISS kan bieden.