Uitzonderlijk hoge CT-beeldkwaliteit

ZEISS scatterControl

De hardware-oplossing voor uitzonderlijk hoge beeldkwaliteit

De ZEISS scatterControl-module verbetert de beeldkwaliteit aanzienlijk en reduceert scatter-artefacten van CT-scans tot een minimum. Deze verbeteringen vergemakkelijken de daaropvolgende stappen voor gegevensverwerking en evaluatie voor geschikte onderdelen. Dit wat resulteert in een nog nauwkeurigere oppervlaktebepaling en defectanalyse. Het product is ideaal voor volumineuze onderdelen met een hoge dichtheid, zoals additief vervaardigde metalen onderdelen en aluminium gegoten onderdelen, zelfs met stalen inlegwerken, evenals andere assemblages die materialen met hogere dichtheid bevatten.

De module is beschikbaar voor ZEISS METROTOM 1500 225kV G3, als modernisatie-oplossing of als onderdeel van de aankoop van een nieuw systeem. Upgrade uw systeem nu met ZEISS scatterControl en profiteer van uitzonderlijk hoge beeldkwaliteit voor een veel eenvoudigere gegevensevaluatie.

Voordelen
Beeldkwaliteit
ZADD-software
Veelgestelde vragen
Contact opnemen

Hoe u profiteert van ZEISS scatterControl

Betere beeldkwaliteit, betere defectdetectie

ZEISS scatterControl verbetert de CT-beeldkwaliteit aanzienlijk door het voorkomen van artefacten veroorzaakt door verstrooide straling te verminderen. Het contrast tussen de verschillende onderdelen wordt vergroot en defectdetectie wordt vereenvoudigd: gebieden van onderdelen die voorheen bijna onmogelijk te beoordelen waren, kunnen nu worden geëvalueerd.

Verbeterde oppervlaktebepaling

Niet alleen defectdetectie, maar de algehele kwaliteit van oppervlaktebepaling wordt verbeterd met ZEISS scatterControl. Dit is een aanzienlijk voordeel voor metrologische toepassingen op uitdagende onderdelen, waarbij artefacten het oppervlaktebepalingsproces afleiden wanneer ze niet worden gecorrigeerd.

Snel scannen met VAST-modus

ZEISS scatterControl werkt met zowel ‘Stop and Go’ als VAST-scanmodus. De scatterControl-oplossing biedt uitzonderlijk hoge beeldkwaliteit voor CT met conusstraal die vergelijkbaar is met de kwaliteit van CT met waaierstraal – maar met tot wel 1000x snellere scantijden.

Eenvoudig in gebruik

ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. De module werkt naadloos samen met andere handige functies van METROTOM OS, zoals VHD (Virtual Horizontal Detector Extension), AMMAR (Advanced Mixed Material Artifact Reduction) of VolumeMerge, en is volledig geïntegreerd in de software.

ZEISS scatterControl voor betere defectanalyse

ZEISS scatterControl verbetert de beeldkwaliteit van CT-scans aanzienlijk voor een breed scala aan onderdelen en industrieën. Daar zijn duidelijke redenen voor, variërend van efficiënte verwijdering van artefacten tot de positionering van de module ten opzichte van het werkstuk. Hierdoor is ZEISS scatterControl de ideale keuze. Ontdek hieronder hoe u de module kunt gebruiken voor uitstekende defectdetectie en analyse.

Verminderde artefacten voor verbeterde CT-beeldkwaliteit

ZEISS scatterControl maakt een groot verschil. Gebruik het schuifelement om de röntgenbeeldkwaliteit te vergelijken die kan worden bereikt met en zonder de scatterControl-module. Het verbeterde beeld vertoont een hoger contrast en minder artefacten, waardoor details veel duidelijker opvallen.

Superieure kwaliteit door positionering van modules

ZEISS scatterControl behaalt superieure kwaliteit in vergelijking met vergelijkbare producten dankzij het werkingsprincipe van de module: deze wordt tussen de buis en de detector geplaatst. Kleinere objecten zoals additief vervaardigde onderdelen met hoge dichtheid kunnen voor de module worden geplaatst, grotere objecten erachter. Het werkt hoe dan ook. Bovendien voorkomen de ingebouwde fysieke botsingssensor en de geavanceerde botsvoorspellingssoftware crashes effectief.

Ideaal voor een scala aan onderdelen en industrieën

  • Gieterij: Enorme aluminium of magnesium onderdelen, zelfs met stalen inlegwerken
  • Automotive: Gietstukken met stalen inlegwerken, stroomelektronica
  • Additieve vervaardiging: Gedrukte metalen onderdelen met hoge dichtheid

Verbeterde 3D-inspectie

Verbeteringen van de volumegegevens leiden tot een veel eenvoudigere evaluatie. 3D-oppervlakken kunnen worden bepaald en weergegeven zonder afleidende artefacten. Veel artefacten zijn meestal het gevolg van verspreide straling en veroorzaken pseudo-oppervlakken in 3D die nauwkeurige metingen belemmeren.

Betrouwbare evaluatiesoftware voor röntgeninspectie

De ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)-software detecteert betrouwbaar zelfs de kleinste defecten – voor spuitgegoten, medische, additief vervaardigde componenten en meer.

Meer informatie

Veelgestelde vragen over ZEISS scatterControl

Welke werkstukken profiteren het meest van ZEISS scatterControl?

Onderdelen die het meest profiteren van ZEISS scatterControl zijn onder meer massieve aluminium of magnesium onderdelen, gietstukken met stalen inlegwerken, stroomelektronica en gedrukte metalen onderdelen met hoge dichtheid, om slechts enkele voorbeelden te noemen.

Hoe stel ik een scan in met ZEISS scatterControl?

ZEISS scatterControl is een oplossing met één klik. Software- en hardware-conflictbeveiliging zijn al geïntegreerd, wat betekent dat u het scanproces zonder extra stappen kunt starten.

Ik heb al een ZEISS ID METROTOM 1500 G3. Kan ZEISS scatterControl achteraf worden gemoderniseerd?

Ja, ZEISS scatterControl is een ideale modernisatie-oplossing voor ZEISS METROTOM 1500 G3. Mogelijk zijn updates nodig, bijvoorbeeld voor METROTOM OS, om uw CT te verbeteren met de scatterControl-module.