ZEISS Industrial Quality Solutions

Creëer succes

Jouw partner voor multidimensionale industriële metrologie

ZEISS Industrial Quality Solutions is een toonaangevende fabrikant van multi-dimensionale meetoplossingen. Ons productportfolio omvatten coördinaten-meetapparaten, optische en multi-sensor systemen, microscopie-systemen voor industriële kwaliteitsborging en metrologie-software voor de auto-, vliegtuig-, machinebouw-, kunststof- en medische technologie-branches. Innovatieve technologieën zoals 3D-röntgen metrologie voor kwaliteitsinspecties. Bovendien biedt ZEISS Industrial Quality Solutions een breed, wereldwijd spectrum van servies met ons regionale Quality Excellence Centers. Het hoofdkantoor is gevestigd in Oberkochen. Productie- en ontwikkelingslocaties buiten Duitsland bevinden zich in Minneapolis (VS), Shanghai (China) en Bangalore (India). ZEISS Industrial Quality Solutions maakt deel uit van het segment Industrial Quality & Research.

Decarbonisatie is een belangrijke drijfveer voor markttransformatie

De kwaliteitsoplossingen van ZEISS staan voor precisie en prestaties. Onze systemen en software zijn toonaangevend in de industrie en zorgen voor proces- en productoptimalisaties die fabrikanten nodig hebben. Als pioniers denken we altijd een stap vooruit: Ondernemerschap en duurzaamheid zijn onlosmakelijk verbonden met veranderingen als gevolg van nieuwe technologieën, productieprocessen en nieuwe klantspecificaties.

Meer informatie

100 jaar Industrial Metrology bij ZEISS

Ga met ons mee op een reis door de tijd

1 of 14

1919

Oprichting "Fine Measurement Depertment"

1e meet-instrumenten op Voorjaarsbeurs Leipzig.
1920

Eerste grote apparaten: optimeter, werkplaats-meetmicroscopen en voelermaten

De optimeter van ZEISS uit 1920 was waarschijnlijk het eerste meetinstrument ooit dat in de precisie-mechanica integreerde.
1926

Eerste universele meetmicroscoop

ZEISS boekte ook aanzienlijke technologische vooruitgang met de ZEISS universele meetmicroscoop, die in 1926 op de markt werd gebracht.
1953

Nieuwe universele meetmicroscoop

In 1950 begon ZEISS met de oprichting van het "Department for Technical Measuring Instruments". Het doel van de afdeling was om compleet nieuwe meetinstrumenten te ontwerpen.
1963

Eerste digitale meetinstrumenten

In de jaren 1960 waren er tekenen van een revolutie in de meet-technologie: Meetinstrumenten met numeriek-elektronische meetwaarde-output.
1973

UMM 500: Zeer nauwkeurig driecoördinaten-meetapparaat

In 1973 werd het eerste zeer nauwkeurige driedimensionale coördinaten-meetapparaat gepubliceerd met een meetkop, geïntegreerde tafel, computer en eigen meetsoftware.
1977

De "Fine Measurement Department" werd omgedoopt tot "Industrial Metrology (IMT)"

Het "Fine Measurement Department" werd omgedoopt tot "Industrial Metrology (IMT)".
1978

WMM-serie voor productie-gerelateerd gebruik

De nieuwe serie werkplaats-meetmachines ZEISS WMM, die in 1978 op de markt kwam, bood een blik in de toekomst van het meten.
1983

Eerste leverancier van een CNC tactiel tastersysteem voor CMM's

Een belangrijke innovatie van ZEISS IMT uit 1983 was de automatische CNC tasterwisselaar voor coördinaten-meetapparaten.
1985

Eerste CAD-programmering van CNC-meetsequenties

Kortere meettijden dankzij CAA procedures en CAD programmering.
1995

ZEISS CALYPSO

ZEISS CALYPSO: een revolutionair CAD-gebaseerd meetsoftware-concept.
2001

ZEISS CenterMax

Productie-meetapparaat voor temperatuurstabiele metingen zoals in de meetruimte.
2006

ZEISS METROTOM

Computertomografen voor industriële toepassingen, metrotomografie in het micrometerbereik.
2014

De ZEISS XENOS

Coördinaten-meetapparaten maken gebruik van innovatieve technologie om nieuwe gebieden van nauwkeurigheid en dynamiek te bereiken en zo nieuwe standaarden te stellen.